XRF-2000L型號測厚儀韓國先鋒電鍍膜厚儀 

Microp鍍層測厚儀XRF-2020膜厚測試儀

規格型號如下圖所示

產(chǎn)品如下圖所示

韓國X-RAY膜厚儀 X熒光鍍層測厚儀韓國XRF-2020規格如上圖

先鋒X射線(xiàn)鍍層測厚儀X-RAY膜厚儀測量原理：

物質(zhì)經(jīng)X射線(xiàn)或粒子射線(xiàn)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態(tài)。從不穩定狀態(tài)要回到穩定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線(xiàn)鍍層厚度測量?jì)x或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。

儀器規格

XRF-2020L型:測量樣品長(cháng)寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:測量樣品長(cháng)寬55cm,高10cm:臺載重5kg

儀器全自動(dòng)臺面,自動(dòng)雷射對焦,多點(diǎn)自動(dòng)測量

多個(gè)準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個(gè)或單個(gè)準直器,準直器大小可自動(dòng)切換

微先鋒測厚儀XRF-2020操作方法

Microp XRF-2020L型-H型-PCB型

1． 儀器及附件均處開(kāi)機狀態(tài)（電腦，顯示器）

2． 在程序庫中選中與產(chǎn)品對應的曲線(xiàn)（產(chǎn)品需與曲線(xiàn)一致）

3．  打開(kāi)儀器前蓋，臺面自動(dòng)伸出

4．  將樣品放入儀器臺面，測量大致位置對準儀器紅外對焦點(diǎn)

5．  關(guān)閉儀器前蓋，儀器臺面自動(dòng)歸位

6．  在顯示器屏幕中用鼠標控制儀器臺面微調，精確對準測試位置

7．  點(diǎn)擊SART測試：

8．  測試過(guò)程中X-RAY指示燈亮紅，此時(shí)嚴禁打開(kāi)儀器前蓋。

9．  測試時(shí)間15秒主窗口及數據表中顯示測試產(chǎn)品厚度

10． X-RAY指示燈熄滅，打開(kāi)儀器前蓋，臺面自動(dòng)伸出

11． 取出樣品，完成測試

X-RAY膜厚儀

X射線(xiàn)鍍層測厚儀

韓國電鍍測厚儀

X-RAY電鍍測厚儀

微先鋒XRF-2020L

韓國Micropioneer XRF-2020測厚儀膜厚儀

快速無(wú)損測量

鍍金，鍍銀，鍍錫，鍍銀，鍍鎳，鍍銅

鍍鋅鎳合金等！

XRF-2000L型號測厚儀韓國先鋒電鍍膜厚儀 

備注：XRF-2000現已停產(chǎn)，型號均已升級為XRF-2020系列